冷凍干燥機凍干制品時(shí)共晶點(diǎn)的測定

冷凍干燥機凍干制品時(shí)，共晶點(diǎn)是怎么測定呢？共晶點(diǎn)的測定的方法有1.電阻測定法、2.差分析測定法、3.凍干顯微鏡直接觀(guān)察、數字公式計算測定。標準的共晶點(diǎn)測量法是將一對白金電極浸入液體產(chǎn)品之中，并在產(chǎn)品中插一溫度計，把它們冷卻到-40℃以下的低溫，然后將凍結產(chǎn)品慢慢升溫。用電橋來(lái)測量其電阻，當發(fā)生電阻突然降低時(shí)，這時(shí)的溫度即為產(chǎn)品的共晶點(diǎn)。電橋要用交流電供電，因為直流電會(huì )發(fā)生電解作用，整個(gè)過(guò)程由儀表記錄。此外，還可以在預凍階段通過(guò)視窗來(lái)觀(guān)察制品性狀的變化來(lái)獲得共晶點(diǎn)。當制品開(kāi)始結冰的時(shí)候，浸入制品中的電熱偶所探測到的溫度會(huì )突然回升，這是因為結冰過(guò)程的放熱現象所造成的。這時(shí)候所記錄的溫度就大致接近于共晶點(diǎn)溫度。在冷凍干燥的工藝中， 共晶點(diǎn)是獲得凍干的臨界溫度， 冷凍干燥必須在大大低于共晶點(diǎn)的溫度和壓力下進(jìn)行，為保證物料*凍結，預凍溫度要比物料共晶點(diǎn)低5-10℃。冷凍干燥機Pilot2-4M參數：